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文章來(lái)源 : 粵科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2025-04-11 瀏覽量:
江蘇粵科檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室作為獨(dú)立第三方電子元器件檢測(cè)機(jī)構(gòu),專(zhuān)注電容器失效分析與可靠性研究近二十年。實(shí)驗(yàn)室依據(jù)IPC-J-STD-020、IEC 60384等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),針對(duì)電容器開(kāi)路、短路、容量衰減、漏電流異常等失效現(xiàn)象,提供從物理失效定位到根本原因分析的完整解決方案。服務(wù)涵蓋消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、工業(yè)控制等領(lǐng)域的MLCC、鋁電解電容、鉭電容等全品類(lèi)電容器檢測(cè)需求。
1. 介質(zhì)材料失效:陶瓷電容微裂紋、電解液干涸;
2. 過(guò)電壓擊穿:瞬時(shí)浪涌導(dǎo)致的介質(zhì)層穿孔;
3. 溫度沖擊失效:BME結(jié)構(gòu)分層、焊點(diǎn)熱疲勞;
4. 機(jī)械應(yīng)力損傷:SMT貼裝應(yīng)力引發(fā)的內(nèi)部裂紋;
5. 焊接工藝缺陷:虛焊/冷焊導(dǎo)致的接觸失效;
6. 潮濕敏感損傷:MSL等級(jí)不符引發(fā)的濕氣膨脹。
1. 外觀(guān)顯微檢測(cè)
采用數(shù)碼金相顯微鏡進(jìn)行2000倍放大檢測(cè),精準(zhǔn)識(shí)別電容器外部損傷、封裝開(kāi)裂、電極腐蝕等表觀(guān)缺陷。
2. 內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
應(yīng)用X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)非破壞性檢測(cè),三維斷層掃描分辨率達(dá)0.5μm,可清晰觀(guān)測(cè)內(nèi)部電極變形、介質(zhì)層錯(cuò)位等結(jié)構(gòu)異常。
3. 微觀(guān)形貌觀(guān)測(cè)
配備JEOL JSM-7900F場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,配合牛津能譜儀(EDS)進(jìn)行失效點(diǎn)元素分析,精確識(shí)別電極遷移、枝晶生長(zhǎng)等微觀(guān)失效特征。
4. 電性能驗(yàn)證測(cè)試
使用Agilent B2902A精密源表進(jìn)行漏電流測(cè)試,Keysight E4980AL LCR表測(cè)量容值/DF值變化,結(jié)合可焊性測(cè)試儀驗(yàn)證端電極性能。
5. 環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)
通過(guò)ESS環(huán)境應(yīng)力篩選系統(tǒng),執(zhí)行溫度循環(huán)(-55℃~+150℃)、濕熱試驗(yàn)(85℃/85%RH)、機(jī)械振動(dòng)等加速壽命測(cè)試。
6. 材料成分分析
采用Thermo Fisher DXR3顯微拉曼光譜儀檢測(cè)介質(zhì)材料成分異常,配合TGA熱重分析儀驗(yàn)證有機(jī)材料熱穩(wěn)定性。
- 多層陶瓷電容(MLCC):01005~2220全尺寸檢測(cè);
- 鋁電解電容器:液態(tài)/固態(tài)電解電容失效診斷;
- 鉭電容器:浪涌失效與燒結(jié)缺陷分析;
- 薄膜電容器:金屬化膜層損傷檢測(cè);
- 超級(jí)電容器:電極材料性能退化研究。
1. 咨詢(xún)溝通:確認(rèn)檢測(cè)需求及樣品狀態(tài);
2. 方案制定:制定檢測(cè)方案并簽訂協(xié)議;
3. 實(shí)驗(yàn)分析:開(kāi)展多維度檢測(cè)并記錄數(shù)據(jù);
4. 報(bào)告編制:生成包含失效機(jī)理、改進(jìn)建議的完整報(bào)告;
5. 報(bào)告交付:提供紙質(zhì)/電子版雙版本,支持技術(shù)解讀。
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